기기분류	광학/전자영상장비 ▷현미경 ▷주사탐침현미경
	기기명	AFM(Atomic force microscope, 원자현미경)
	모델명	XE7
	제조회사	Park sys
	구입년도	2014.02
	사용료(내부사용자)	20,000원/시간
	사용료(외부사용자)	40,000원/시간

 

시설 장비 설명	원자현미경은 시편의 표면 형상 및 거칠기를 분석하는데 사용되는 대표적인 장비로, 시편의 표면 형상 이외에 전기적, 자기적, 기계적 특성 등 다양한 물성을 나노크기에서 측정하고 분석하는데 이용됨.
구성 및 성능	1. Completely Decoupled XY & Z Scanners with Closed-Loop Feedback 2. SLD XE AFM Head 3. Direct On-Axis Optical Microscope 4. High Resolution Digital CCD Camera with Digital Zoom 5. Manual Focus Stage for On-Axis Optics 6. Motorized Z Stage 7. Manual High Precision XY Stage 8. XE-Series Electronics 9. Software
사용/활용 예	원자현미경은 주로 접촉/비접촉 모드를 통해서 시편의 표면 형상 및 거칠기 측정을 위해 이용됨. 또한, 시편 표면의 전기적/자기적 특성 등 다양항 물성을 측정하는데에도 이용될 수 있음
오퍼레이터	서동민 Tel. [대표번호] 044-860-1309